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          F 電鏡標準樣 產品展示
          掃描電鏡能譜檢測標樣X-Checker
          掃描電鏡能譜檢測標樣X-Checker
          X-Checker檢測標樣是第一個并且保有全系列標準物質,可以應用于監測SEM/EDS系統性能。若打算在較短時間內檢測手頭儀器的的性能,請選擇X-Checker。
          AuSome? 金顆粒校準標樣(for SEM, FIB and FESEM)
          AuSome? 金顆粒校準標樣(for SEM, FIB and FESEM)
          AuSome? 金顆粒校準標樣,超高分辨率電鏡校準用標樣,這些已知直徑的金顆粒均勻被覆在硅片上,硅片大小5x5mm,厚0.5mm。納米呈像時作為納米尺度,校準因為聚焦、散光、工作距離等等的微調帶來的圖像的偏差。
          144nm高分辨2D校準標樣(for AFM、STM、Auger、FIB、SEM)
          144nm高分辨2D校準標樣(for AFM、STM、Auger、FIB、SEM)
          144nm高分辨2D校準標樣,硅片大?。?*3*0.5mm,圖案由鋁金屬制的(高度大約90nm,寬75nm,此參數無校準,注意,其圖案布滿硅片),2D全息陣列,間距144nm,表層噴鍍鎢膜,精確度±1nm。
          70nm超高分辨率校準標樣(for AFM、SEM、Auger和 FIB)
          70nm超高分辨率校準標樣(for AFM、SEM、Auger和 FIB)
          條紋70nm間距,一維排列,精確到±0.25nm。分帶證書和不帶證書兩類。提供的產品有兩種型號:Model 70-1D和Model 70-1DUTC。
          透射電鏡校準標樣MAG*I*CAL
          透射電鏡校準標樣MAG*I*CAL
          這是一個世界上最微的尺子!已經申請世界吉尼斯紀錄!這個獨特的校準標樣直接溯源于硅晶體的晶格常數,它能用來對所有透射電鏡進行三項專業的標定和校正:放大倍率、相機常數、像與衍射花樣之間的磁轉角。
          可溯源標準粒子(NIST Traceable Size Standards)
          可溯源標準粒子(NIST Traceable Size Standards)
          精細的粒度標準品,提供三種系列大小的粒子:Nanobead, Microbead, and Megabead。粒子大小的測量均為NIST內部校準儀器。
          計數標準微粒(SureCount? Particle Count Standard)
          計數標準微粒(SureCount? Particle Count Standard)
          SureCount? 標準聚苯乙烯微球,對于校正和標定液態粒子計數儀器具有最高的性價比。
          掃描電鏡線寬標樣
          掃描電鏡線寬標樣
          掃描電鏡測長物質常見的有兩種,一種線寬標準物質,一種粒度標準物質。線寬標準物質以單晶硅為基底,表面刻制金屬膜(鎢或者鈦)。周期性的線寬標準物質主要用于校準掃描電鏡放大倍率和進行長度的比對。
          納米級微球顆粒標準品(Particle-Size Standards)
          納米級微球顆粒標準品(Particle-Size Standards)
          納米級微球顆粒標準品(Particle-Size Standards)直徑大小高度均一,具有NBS 的NIST認證,屬于Duke Scientific公司榮譽出品Nanosphere Size Standards?系列產品中的聚合體微球標準品(苯乙烯單體聚合而成)。
          透射電鏡污染率測試標樣(碳粒金網)(Combined Test Specimen)
          透射電鏡污染率測試標樣(碳粒金網)(Combined Test Specimen)
          透射電鏡測試標樣:多孔碳薄膜覆蓋在鍍金的網上(直徑3.05mm),石墨化的碳顆粒沉積其上。
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